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北崎推薦~山田光學YAMADA半導體用表面拋光燈YP-150I

日期:2024-10-23 01:36
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摘要: 表面拋光燈YP-150I(現(xiàn)貨) 山田光學YAMADA半導體用鹵素光源照明裝置 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 特點介紹 高亮度鹵素光源裝置在半導體芯片及液晶基板加工 是宏観観察用的照明設備,可検測各種缺陥如半導體晶片及液晶基板加工中*費人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。 用于檢測各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。 山田光學YAMADA半導體用鹵素光源照明裝置 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 規(guī)格參數(shù) 1、可照亮樣...



表面拋光燈YP-150I(現(xiàn)貨)

山田光學YAMADA半導體用鹵素光源照明裝置 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 特點介紹


高亮度鹵素光源裝置在半導體芯片及液晶基板加工

是宏観観察用的照明設備,可検測各種缺陥如半導體晶片及液晶基板加工中*費人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。

用于檢測各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。


山田光學YAMADA半導體用鹵素光源照明裝置 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 規(guī)格參數(shù)


1、可照亮樣品表面400,000Lx以上。

2、光源采用鹵素燈,色溫高,照度不均小,光線極其穩(wěn)定銳利。

3、采用冷鏡,熱量的影響極大地降低到傳統(tǒng)鋁鏡的1/3。

4、兩級切換機構(gòu),一鍵實現(xiàn)高照度觀察和低照度觀察。

YP-150I 照度范圍:30mmφ

YP-250I 照度范圍:60mmφ

超精密平面檢測的理想選擇!通過驚人的照明,可以檢測小于 0.2 μm 的缺陷。

YP-150I"是一種用于顯微觀察的照明裝置,用于檢測

*終成品表面上的各種缺陷,如異物、劃痕、拋光不均勻、霧度、滑移等,是半導體加工過程中勞動強度的一種。晶圓和液晶板

另外,由于采用鹵素燈作為光源,色溫高,

光照不均勻的情況很少,光照***穩(wěn)定銳利。

姊妹機“YP-250I"也可用于 8 英寸。

光源采用鹵素燈

■ 可以將樣品表面照射到400,000 Lx或更高

■ 熱量的影響降低到傳統(tǒng)鋁鏡的1/3

■ 高照度觀察和低照度觀察可一鍵切換

請用于超精密平面檢測!


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